連接器測(cè)試一般涉及以下幾個(gè)項(xiàng)目:插拔力測(cè)試、耐久性測(cè)試、 絕緣電阻測(cè)試 、耐電壓測(cè)試 、振動(dòng)測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試 、混合氣體腐蝕測(cè)試 等 連接器具體測(cè)試項(xiàng)目如下: (一)插拔力測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-13 目的:驗(yàn)證連接器的插拔力是否符合產(chǎn)品規(guī)格要求 原理:將連接器按規(guī)定速率進(jìn)行*插合或拔出,記錄相應(yīng)的力值 (二)耐久性測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-09 目的:評(píng)估反復(fù)插拔對(duì)連接器的影響,模擬實(shí)際使用中連接器的插拔狀況 原理:按照規(guī)定速率連續(xù)插拔連接器直至達(dá)到規(guī)定次數(shù)。 (三)絕緣電阻測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-21 目的:驗(yàn)證連接器的絕緣性能是否符合電路設(shè)計(jì)的要求或經(jīng)受高溫,潮濕等環(huán)境應(yīng)力時(shí),其阻值是否符合有關(guān)技術(shù)條件的規(guī)定。 原理:在連接器的絕緣部分施加電壓,從而使絕緣部分的表面或內(nèi)部產(chǎn)生漏電流而呈現(xiàn)出來(lái)的電阻值。 (四)耐電壓測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-20 目的:驗(yàn)證連接器在額定電壓下是否能安全工作,能否耐受過電位的能力,從而評(píng)定連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合適原理:在連接器接觸件與接觸件之間,接觸件與外殼之間施加規(guī)定電壓并保持規(guī)定時(shí)間,觀察樣品是否有擊穿或放電現(xiàn)象。 (五)接觸電阻測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-06/EIA-364-23 目的:驗(yàn)證電流流經(jīng)接觸件的接觸表面時(shí)產(chǎn)生的電阻值 原理:通過對(duì)連接器通規(guī)定電流,測(cè)量連接器兩端電壓降從而得出電阻值 (六)振動(dòng)測(cè)試: 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-28 目的:驗(yàn)證振動(dòng)對(duì)電連接器及其組件性能的影響 振動(dòng)類型:隨機(jī)振動(dòng),正弦振動(dòng) (七)機(jī)械沖擊測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-27 目的:驗(yàn)證連接器及其組件耐沖擊的能力或評(píng)定其結(jié)構(gòu)是否牢固 測(cè)試波形:半正弦波,方波 (八)冷熱沖擊測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-32 目的:評(píng)估連接器在急速的大溫差變化下,對(duì)于其功能品質(zhì)的影響 (九)溫濕度組合循環(huán)測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-31
目的:評(píng)估連接器在經(jīng)過高溫高濕環(huán)境儲(chǔ)存后對(duì)連接器性能的影響 (十)高溫測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-17 目的:評(píng)估連接器暴露在高溫環(huán)境中于規(guī)定時(shí)間后端子和絕緣體性能是否發(fā)生變化 (十一)鹽霧測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-26 目的:評(píng)估連接器,端子,鍍層耐鹽霧腐蝕能力 (十二)混合氣體腐蝕測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-65 目的:評(píng)估連接器暴露在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕能力及對(duì)其性能的影響 (十三)線材搖擺測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-41 目的:評(píng)估連接器經(jīng)受反復(fù)來(lái)回應(yīng)力的能力以及評(píng)估此過程中的電連續(xù)性